提高源后衰變和跨環由轉換促進氨基低聚糖低聚糖的碎片
摘要
        源后衰變（PSD）碎片的化學或酶法生產氨基酸聚糖已被評估。從糊精或葡聚糖寡糖化學轉換為1 - 氨基聚​​糖之前，他們的電離/飛行時間質譜分析。來自糖蛋白，氨基聚糖NGlycans使用N-聚糖酶和一個基本的孵化緩沖區。本地提高檢測靈敏度的片段，以及誘導跨環糊精和右旋糖酐寡糖的碎片各自的氨基酸聚糖聚糖轉換。電導度計| PH計| 酸堿計| 糖度計| 鹽度計| 酸堿度計| 電導計| 水分測定儀| 濁度計| 色度計| 粘度計| 折射計
轉換氨基聚糖在從糖蛋白的N-糖鏈的情況下提高質量的PSD，但沒有實質性誘導跨環碎片。糊精和右旋糖酐誘導的跨環碎片不同。轉換到氨基低聚糖，糊精（葡萄糖基主要是A1-4與幾支A1-6-聯糖基）誘導的只有0,2艾跨環碎裂。右旋糖酐寡糖轉換另一方面，（其中葡萄糖基完全是A1-6鏈接）氨基低聚糖提示0,3 0,2艾，艾和0,4艾跨環分裂的產生。糊精和葡聚糖這些跨環碎裂不僅限于還原葡萄糖基轉換的氨基酸組所在，但延長了分子。這可能表明，在一個不穩定的中間形成的氨基酸組的作用，傳播在整個分子，隨后引起了跨環碎裂。致謝本工作得到了批準號（GM24349），美國衛生和人類服務部普通醫學科學研究所從。