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簡介:測量精度 0.20△E*ab以內(nèi) 顯示內(nèi)容 △E*ab、CIE Lab、△Lab、CIE Lch 測量范圍 L:0-100 a:-128—127 b:-128—127 測量時間 約3秒 測量間距 約2秒 測量孔徑 ¢8mm 自動關(guān)機 待機5分鐘,自動關(guān)機 測量光源 C光源
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簡介:本儀器用于光合有效輻射的測量,光譜響應模擬光合有效函數(shù), 測量范圍: 10~1.999×10mW/cm,準確度±5%±1字。
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簡介:溫度范圍 -40°C~ 100°C 溫度精度 0.5 °C(0°C ~66°C) 1°C(其他范圍) 溫度分辨率 0.1°C 溫度顯示 LCD 數(shù)據(jù)存儲容量 30000組 記錄采樣間隔 1秒~24小時可調(diào) 延時啟動 1秒~24小時可調(diào)
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簡介:數(shù)字實時技術(shù)——使用TEKWAY獨特的數(shù)字實時(Digital Real Technology)采樣技術(shù)和高速的波形刷新率技術(shù),在每一通道上能同時迅速調(diào)試和檢測各類信號并分析其特性。TEKWAY數(shù)字示波器的數(shù)字實時采樣技術(shù)可以捕捉高頻非重復信息,如毛刺信號、異常信號、噪聲信號等偶發(fā)信號,而同類中的某些示波器則無法很好地完成此項工作
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